Услуги

Встречи в формате «Вопросы-ответы» по основам технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT)

На стенде В34 компании PCB technology на выставке ЭкспоЭлектроника  (13-16 апреля 2009, Москва, Крокус Экспо) состоятся встречи заказчиков компании с авторами цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже почти два года постоянно публикуемого в журнале «Производство электроники» – с профессионалами международного уровня в этой области, Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании StarTest.

Встречи будут организованы в свободном формате вопросов-ответов по любым аспектам применения технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), без специального расписания, т.е. все время работы выставки.
Заинтересованные смогут на месте и бесплатно:
- получить консультации по тестопригодности их схем (схемы следует принести с собой на бумаге или в любой электронной форме);
- обсудить возможности тестирования этих схем методами граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT);
- ознакомиться с работающими демонстрационными примерами JTAG-тестирования и с операционной оболочкой «JTAG-менеджер» с русскоязычным интерфейсом, предназначенной для прогона JTAG-тестов на производственных линиях;
- получить в подарок «флэшку» с уже опубликованными в журнале статьями и другими относящимися к теме материалами.
Авторы также проведут на стенде В34  ряд коротких ежедневных семинаров по тематике цикла. Участие в семинарах бесплатное и не требует предварительной записи.
Пригласительные билеты на выставку "Экспо-Электроника" можно бесплатно получить в офисе нашей компании.

Google
Rambler's Top100 Поиск электронных компонентов